Prestação de serviços
Microscopia de Força Atômica (AFM)
Microscópio FlexAFM (NanoSurf) com controlador C300, com resolução de imagem de 256, 512 até 1024 pixels, e velocidade de aquisição de 0,25 Hz a 1 Hz, e processamento de imagens usando o programa Gwyddion.
Tamanho de partículas e Potencial zeta (DLS)
Equipamento Malvern (Reino Unido) Zetasizer Nano-ZS para determinação da distribuição de tamanho de partículas e medida de potencial zeta de amostras tipicamente em soluções aquosas, com titulador automático acoplado para medidas em função do pH.
Microscopia Hiperspectral de Campo Escuro (Cytoviva)
Microscópio confocal de ultra resolução da empresa Cytoviva Inc (Estados Unidos), modelo Cytoviva com arranjo hiperespectral montado em um microscópio Olympus BX51, equipado com fontes de 465 nm, 545 nm e 635 nm para os canais azul, verde e vermelho respectivamente, para registrar imagens de campo escuro e espectro de espalhamento Rayleigh de nanopartículas isoladas. As imagens hiperespectral nos modos absorção e emissão podem ser obtidas com resolução espacial máxima de cerca de 100 nm e resolução espectral de 1 nm, onde cada pixel é constituído por um espectro de espalhamento na faixa de 400 a 1000 nm, mas a imagem RGB é reconstruída utilizando-se apenas um comprimento de onda como entrada para cada canal de cor.
Microscopia Raman Confocal (WItec)
Microscópio confocal Raman WITEC (Alemanha) modelo Alpha 300R equipado com lasers de 488 nm, 532 nm e 633 nm e uma mesa de varredura piezoelétrica, com lentes objetivas (Nikon) de 10x (NA 0,25); 20x (NA:0,4) 100x (NA:0,80), abertura (pinhole) de 20, 50 e 100 μm, acoplado com câmera CCD convencional ou EMCCD, para imageamento baseado em propriedades moleculares.
Microscopia de Infravermelho (MFT-IR)
Microscópio MFT-IR Shimadzu (Japão) modelo AIM-8800 por transmissão e ATR, na faixa de 700 a 4000 cm -1 e resolução espectral de 4 cm -1 , tipicamente com N de 10 a 100 espectros.
Difratometria de raios X de pó (DRX)
Difratômetro Bruker (Alemanha) modelo D2 Phaser, de varredura contínua de 2/ entre 5 a 90° 2, energia de 30 kV/14 mA, com intervalos customizáveis de passo angular e tempo de integração, utilizando fonte de cobre K-alfa (1.5408 Å). Amostras contendo ferro podem ser analisadas delimitando-se a energia do detector para 0.17 keV, ao invés de 0.11 keV.
Espectrometria de fluorescência de raios X por energia dispersiva (EDX)
Equipamento Shimadzu (Japão) modelo EDX-720 com tubo de Rh, voltagem de 15-50 kV, corrente variável 1-1000 uA e detector semicondutor de Si(Li) refrigerado à nitrogênio líquido, e carrossel de 16 posições programável. As amostras podem ser analisadas no estado sólido ou líquido, usando 200 µL (porta amostras de 7 mm de diâmetro) ou 2000 µL (porta amostras de 24 mm de diâmetro).
Espectrometria de infravermelho por transformada de Fourier (FT-IR)
Espectrofotômetro infravermelho por transformada de Fourier Bruker (Alemanha), modelo Alpha para análise de amostras sólidas e líquidas por: a) Transmitância, b) Reflectância total atenuada (ATR, com cristal de Ge ou ZnSe), c) Multi-ATR (com uma janela de 50 x 5 mm e cristal de ZnSe) e d) Transmitância por reflexão difusa (DRIFT).
Análise Termogravimétrica (TG/DTA)
Equipamento Shimadzu (Japão), modelo DTG-60 que realiza simultaneamente a análise termogravimétrica (DTG) e a análise térmica diferencial (DTA) utilizando cadinhos de platina ou de cerâmica para a amostra e a referência, em atmosfera controlada (ar ou gás inerte), com faixa de temperatura programável desde a ambiente até 1100 ºC. A quantidade máxima de amostra é 50 mg, tipicamente de 5 a 10 mg, podendo se atingir uma resolução de 1 µg empregando-se porta amostras de platina de 120 mg.
Calorimetria de varredura diferencial (DSC)
Equipamento Shimadzu (Japão), modelo DSC-60 baseado em medida de fluxo de calor, na faixa de temperatura de -140 a 600 ˚C (utilizando nitrogênio líquido), faixa de medição de ± 40 mW, nível de ruído de 1 µW, em atmosfera controlada (ar ou gás inerte) e, suportes de alumínio hermeticamente fechados, usando cadinhos de platina ou de cerâmica para a amostra e a referência.
Estudos eletroquímicos
Potenciostato/galvanostgato EcoChimie AutoLab usando cela típica de três eletrodos; ou potenciostato portátil PalmSens usando eletrodos impressos de carbono DropSens 110 (eletrodo de trabalho de carbono de 4 mm de diâmetro, contra eletrodo de carbono e eletrodo de referência de prata) e DropSens 150 (eletrodo de trabalho de carbono de 4 mm de diâmetro, contra eletrodo de platina e eletrodo de referência de prata).
Potenciostato portátil Palm-Sens
Potenciostato/galvanostato Ecochimie Autolab
Espectrofotometria na região do ultravioleta próximo ao visível (uv-vis)
Espectrofotômetro Agilent (Estados Unidos), modelo HP8453, com detector de matrix de diodos e fontes de tungstênio e de deutério, para medidas na faixa espectral de 190 a 1100 nm, e resolução de 1 nm.
Espectrofotometria Vis-NIR
Espectroradiômetro ASD Inc (Estados Unidos), modelo FieldSpec3, de fibra óptica, equipado com fonte de tungstênio e detectores de silício e fotodiodos de InGaAs, para medidas na faixa espectral de 350 a 2500 nm, e resolução de 3 nm.
Fluorímetro (PTI)
Os espectros de fotoluminescência em estado estacionário e determinação de tempos de vida são obtidos empregando espectrofluorímetro da marca Horiba (Japão) modelo PTI Quantamaster 50 (Projeto FAPESP 2012). Tipicamente as amostras líquidas são colocadas em cubetas de quartzo de caminho ótico de 1 cm e 3,5 mL de volume e analisadas sob feixe de luz que pode ser de amplo espectro, leds com comprimento de onda específico ou até uso de fonte com radiação na região do infravermelho próximo (NIR). O equipamento emprega monocromador com grades e espelhos motorizados, podendo atingir um passo de medida de 0.022nm, atingindo uma resolução final de 0.1 nm.
Cromatografia a gás com detector de massas (GC-MS)
Cromatógrafo à gás com detecção por espectrometria de massas, Shimadzu (Japão) modelo GC-17A equipado com GCMS-QP5050A, empregando He ultrapuro como gás de arraste e coluna db5-ms.
Porosímetro Asap 2020- LCr/IFUSP
Laboratório de Cristalografia
Difratômetro Rigaku para medidas de difração e refletometria de raios X-LCr/IFUSP
Difratômetro Bruker D8-daVinci para medidas de difração de raios X- LCr/IFUSP
